科研进展 | 比昂芯合作五篇论文亮相DAC'24

6月23-27日,国际设计自动化会议(DAC)于旧金山圆满召开。

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DAC’24: The Chips to Systems Conference

DAC是致力于电子芯片与系统设计和设计自动化的国际顶级会议,专注于EDA领域的前沿方法和技术成果。围绕 ”Chips to Systems” (从芯片到系统),本届DAC更涵盖了更广泛的电子系统设计和自动化应用,包含人工智能、自治系统、嵌入式系统、IP、安全、和基于云的解决方案。

本次会议,比昂芯科技深度合作伙伴浙江省芯粒工程研究中心携多篇论文亮相,展现中心研究人员与合作伙伴近期备受瞩目的科研成果。团队多项工作采用先进AI方法,解决模拟电路前端设计、芯片良率估计等EDA传统难题,大幅提升工作效率和工具精确度。
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DAC’24会议现场
论文列表
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1. Every Failure Is A Lesson: Utilizing All Failure Samples To Deliver Tuning-Free Efficient Yield Evaluation
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2. KATO: Knowledge Alignment And Transfer for Transistor Sizing Of Different Design and Technology
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3. LVF2: A Statistical Timing Model based on Gaussian Mixture for Yield Estimation and Speed Binning
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4. MAUnet: Multiscale Attention U-Net for Effective IR Drop Prediction
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5. Unleashing the Potential of AQFP Logic Placement via Entanglement Entropy and Projection

 

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